卡奥斯COSMOPlat自研算法解决了传统算法难以解决的背景干扰问题,提升了设备在检测轻微缺陷方面的能力,已积累30种缺陷,数量达百万;同时,平台已累计拥有3D-DIA技术、IIM技术、CIC技术、频闪控制器、针孔光源技术等40余项专利和专有技术,能够满足20m/s的检测速度下无数据丢失,精度达到0.02mm。
目前,该解决方案已在锂电池上游材料检测领域积累上百家优质客户,与行业细分领域头部企业建立了良好的长期合作关系,并将向锂电上游及其他优势场景延伸,进一步拓展技术应用和落地场景。
以我国锂电隔膜行业某头部企业为例,基于自研光学系统、3D缺陷图像采集和三层嵌套算法核心技术,卡奥斯COSMOPlat研发了标准化程度较高的复杂缺陷检测设备(含数据分析系统),自动发现质量缺陷(褶皱、裂缝等)并指导下游裁切设备避开缺陷实施裁切,高效保证产品质量的同时实现生产成本最低。